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    局部放電測(cè)試儀測(cè)試的目的和要求

    點(diǎn)擊次數(shù):2825 更新時(shí)間:2019-04-29

    1、局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)檢測(cè)是一種非破壞性試驗(yàn)在導(dǎo)體和電纜金屬屏蔽層之間施加工頻電壓,絕緣中的微孔、雜質(zhì)、金屬顆粒,內(nèi)外屏蔽中破洞和凸出物等,在電錫作用下,均會(huì)產(chǎn)生局部放電量。放電量常用微微庫(kù)倫(pC)來(lái)表示。對(duì)于交聯(lián)聚乙烯電纜,因絕緣缺陷而導(dǎo)致電纜擊穿的主要原因是局部放電,使絕緣在工作電壓下不發(fā)生局部放電或不超過(guò)一定量的局部放電,可以保證絕緣的長(zhǎng)期工作可靠性。因此,為了保障電纜的可靠運(yùn)行,把整盤電纜的局部放電試驗(yàn)列入電纜的例行試驗(yàn)是非常重要的,世界上幾乎所有國(guó)家都有該項(xiàng)目的考核標(biāo)準(zhǔn)。我國(guó)近出版的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)已由原來(lái)的1.5U0試驗(yàn)電壓下,局放大為20Pc,改為1.73U0,局放為10Pc。目前國(guó)內(nèi)有的提供廠內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)局放由大為10Pc降至為5Pc。

    2、局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)測(cè)試原理絕緣中發(fā)生局部放電時(shí),引起電、化、光、聲熱各種效應(yīng),利用這些效應(yīng)而有多種局部放電檢測(cè)方法。目前采用廣泛的高頻電脈沖方法,具有較高的靈敏度,可以測(cè)量放電量為微微庫(kù)的微弱信號(hào)。當(dāng)試品上的外加電壓逐漸升高,達(dá)到絕緣中氣隙的放電電場(chǎng)強(qiáng)度時(shí),氣隙中就發(fā)生放電。在試品兩端引起壓降△U引起了試驗(yàn)回路中電荷重新分配的暫態(tài)過(guò)程,高頻脈沖電流在試樣電容,耦合電容器及測(cè)量阻抗上造成了一微弱的放電脈沖信號(hào)。通過(guò)放大器加以放大,然后再通過(guò)示波器將放電信號(hào)顯示出來(lái),以便觀察和記錄。

    3、局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)測(cè)試方法試驗(yàn)電壓應(yīng)加在導(dǎo)電線芯和金屬屏蔽之間,電纜的試驗(yàn)電壓應(yīng)平穩(wěn)升高到1.2倍試驗(yàn)電壓,但時(shí)間不得超過(guò)1min,此后,緩慢的下降到規(guī)定的試驗(yàn)電壓,此時(shí)可測(cè)量局部放電量,之后降壓至零。

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